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Categorie :
Ensembles de mesures C-V / I-V par CONTACT SOUS POINTES
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 | Cet ensemble composé d'une station de test sous pointes, d'un appareil de mesure performant le K4200 et d'accessoires optionnels tels que boîte noire, chuck thermique... permet la caractérisation des principaux composants et matériaux du marché (diode, transistor, cellule photovoltaïque, High K...)
» Dynamique en tension 1µV à 210V, courant 0,1fA à 1A, librairies HCI, CHC, Effet hall, Van Der Pauw...Option CVU incluant les librairies C-V, C-T et C-F.
» Fréquence 10KHz à 10MHz, mesure de capa : 1fF à 100nF » La configuration peut être modulaire et comporter notamment : Température contrôlée, illumination pendant la mesure des cellulles solaires ou capteurs CMOS, isolation totale lumière... » Nous consulter pour étude de la configuration |
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