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1 - CARACTERISATION ELECTRIQUE DES COUCHES SEMI-CONDUCTRICES
NOUVEAU
: CARACTERISATION DE CELLULES SOLAIRES
A - CARACTERISATION PAR C-V / I-V
Ensembles de mesures C-V / I-V par CONTACT SOUS POINTES
Equipements pour caractérisation C-V par CONTACT MERCURE
Accessoires & Options / Caractérisation par C-V
B - MESURE DE RESISTIVITE PAR METHODE 4 POINTES
APPAREILS DE MESURE de résistivité de surface gamme semi-conducteurs
Spécial pour caractérisation de jonctions USJ
Configuration : Mesure de résistivité
portable
Configuration : Mesure de
haute résistivité
Configuration : Mesure de très
faible résistivité
Mesure 4 points par CONTACT MERCURE
TÊTE 4 POINTES pour mesure de résistivité
Micropositionneur spécial pour tête 4 pointes
Accessoires & Options / Mesure de résistivité
C - CARACTERISATION PAR EFFET HALL
Equipements pour mesures d'effet Hall et autres paramètres
Accessoires & Options / Caractérisation par effet Hall
2 - AMINCISSEMENT DES PLAQUETTES DE SEMI-CONDUCTEURS
A - AMINCISSEMENT UNITAIRE DE PUCE (Service)
B - FILMS ADHESIFS POUR MAINTIEN DES PLAQUETTES
C- EQUIPEMENTS D'INSOLATION POUR FILM UV
D - POSE DE FILMS SUR PLAQUETTE (FACE ACTIVE) & DEPOSE
Equipements de pose de film & dépose
Accessoires & Options pour équipements de pose / dépose de films
3 - INSPECTION VISUELLE & APPAREILS OPTIQUES
A - Microscopes & Binoculaires
B - Objectifs et oculaires
c - Accessoires
Caméras
4 - TESTS SOUS POINTES DE MICRO-STRUCTURES
A - STATIONS DE TEST SOUS POINTES POUR ANALYSE ET CARACTERISATION
Stations d'
usage général
(validation design, analyse défaillances, petite production...)
Stations
RF & MICROWAVE
(et spécifiques MEMs...)
B - ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TESTS
Microscopes & Binoculaires
Tables antivibration
Micropositionneurs de précision
Micro-tools (Tests de MEMs, biologie...)
Porte-pointes de tests
Pointes de tests passives
Pointes spécifiques (Actives-Coaxiales-Kelvin..)
Chucks thermiques - Caractérisation en température
Lasers enlèvement métal et couches
Autres accessoires divers
Pompes à vide & compresseurs
Accessoires
spécifiques pour applications RF& Microwave
Micropositionneur spécifique pour tête RF
Pointes coplanaires RF-Microondes
Câbles RF & microwave
C - CARTES A POINTES HAUTE DENSITE EPOXY & VERTICALES
D - FEUILLES DE NETTOYAGE POUR CARTES A POINTES
5 - DECOUPE DES PLAQUETTES SILICIUM ET AUTRES SUBSTRATS
A - EQUIPEMENT -
MACHINE DE DECOUPE
B - FILMS ADHESIFS POUR MAINTIEN DES PLAQUETTES & SUBSTRATS
Films adhésifs standard
Films avec adhésif sensible aux UV
C - MONTAGE DES PLAQUETTES SUR FILM/FRAME
Equipements de montage
Accessoires & Options
D - DISQUE DIAMANTE POUR DECOUPE DE TOUS MATERIAUX FINS
Disque nécessitant un flasque de montage
Disque (lame) incluant le flasque prêt à l'emploi
E - INSOLATEURS DE FILM ULTRAVIOLET
Equipements d'insolation UV
Lampes manuelles UV
Accessoires & Options
F - EXPANSION DU FILM APRES DECOUPE
G - BROSSAGE PLAQUETTES APRES DECOUPE
H - ACCESSOIRES LIES A LA DECOUPE
Anneaux plastique & Cadres métalliques
Flasques de montage pour lame de découpe annulaire
Autres accessoires liés à la découpe
6 - TESTS DE COMPOSANTS & RODAGE (BURN IN)
A1 -
NOUVEAUTES
EN SOCKETS
A2 - SUPPORTS (SOCKETS) STANDARD DE TESTS ET DE BURN IN
Pour boitiers BGA/CSP, LGA
Pour boitiers QFN
Sockets spéciaux pour boitiers forte dissipation
Sockets pour boitiers Axiaux-radiaux & MELF
Sockets pour boitiers TO, SIP, DIP
LCC, FlatPack, SMD, Micro-ondes & Hybrides
Sockets ZigZag & Alternés
Sockets pour boitiers PLCC/SOJ & "Gull Wing"
Boitiers Opto & PGA
Connecteurs
B - CARTES BURN IN - HUMIDITE & AUTOCLAVE
C - POINTES DE TEST A RESSORT
D - CARTES INTERFACE DE TESTS
E - INSTRUMENTATION & LOGICIELS
7 - MANIPULATION DES COMPOSANTS & CONDITIONNEMENT
Micro-manipulation & Micro-tools
8 - SERVICES DE SOUS-TRAITANCE PROTOTYPES
Categorie :
Micropositionneur spécifique pour tête RF
1
Produit(s) Trouvé(s)
S96MW : Micropositionneur RF
+ d'infos..
Présent dans la gamme des
micropositionneurs de précision
» Le modèle S96MW permet de monter des
têtes coplanaires Picoprobe
ou autres de configurations diverses : GS-SG-GSG-GSSGS...Etc pour des tests haute-fréquence
»
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