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1 - CARACTERISATION ELECTRIQUE DES COUCHES SEMI-CONDUCTRICES
NOUVEAU
: CARACTERISATION DE CELLULES SOLAIRES
A - CARACTERISATION PAR C-V / I-V
Ensembles de mesures C-V / I-V par CONTACT SOUS POINTES
Equipements pour caractérisation C-V par CONTACT MERCURE
Accessoires & Options / Caractérisation par C-V
B - MESURE DE RESISTIVITE PAR METHODE 4 POINTES
APPAREILS DE MESURE de résistivité de surface gamme semi-conducteurs
Spécial pour caractérisation de jonctions USJ
Configuration : Mesure de résistivité
portable
Configuration : Mesure de
haute résistivité
Configuration : Mesure de très
faible résistivité
Mesure 4 points par CONTACT MERCURE
TÊTE 4 POINTES pour mesure de résistivité
Micropositionneur spécial pour tête 4 pointes
Accessoires & Options / Mesure de résistivité
C - CARACTERISATION PAR EFFET HALL
Equipements pour mesures d'effet Hall et autres paramètres
Accessoires & Options / Caractérisation par effet Hall
2 - AMINCISSEMENT DES PLAQUETTES DE SEMI-CONDUCTEURS
A - AMINCISSEMENT UNITAIRE DE PUCE (Service)
B - FILMS ADHESIFS POUR MAINTIEN DES PLAQUETTES
C- EQUIPEMENTS D'INSOLATION POUR FILM UV
D - POSE DE FILMS SUR PLAQUETTE (FACE ACTIVE) & DEPOSE
Equipements de pose de film & dépose
Accessoires & Options pour équipements de pose / dépose de films
3 - INSPECTION VISUELLE & APPAREILS OPTIQUES
A - Microscopes & Binoculaires
B - Objectifs et oculaires
c - Accessoires
Caméras
4 - TESTS SOUS POINTES DE MICRO-STRUCTURES
A - STATIONS DE TEST SOUS POINTES POUR ANALYSE ET CARACTERISATION
Stations d'
usage général
(validation design, analyse défaillances, petite production...)
Stations
RF & MICROWAVE
(et spécifiques MEMs...)
B - ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TESTS
Microscopes & Binoculaires
Tables antivibration
Micropositionneurs de précision
Micro-tools (Tests de MEMs, biologie...)
Porte-pointes de tests
Pointes de tests passives
Pointes spécifiques (Actives-Coaxiales-Kelvin..)
Chucks thermiques - Caractérisation en température
Lasers enlèvement métal et couches
Autres accessoires divers
Pompes à vide & compresseurs
Accessoires
spécifiques pour applications RF& Microwave
Micropositionneur spécifique pour tête RF
Pointes coplanaires RF-Microondes
Câbles RF & microwave
C - CARTES A POINTES HAUTE DENSITE EPOXY & VERTICALES
D - FEUILLES DE NETTOYAGE POUR CARTES A POINTES
5 - DECOUPE DES PLAQUETTES SILICIUM ET AUTRES SUBSTRATS
A - EQUIPEMENT -
MACHINE DE DECOUPE
B - FILMS ADHESIFS POUR MAINTIEN DES PLAQUETTES & SUBSTRATS
Films adhésifs standard
Films avec adhésif sensible aux UV
C - MONTAGE DES PLAQUETTES SUR FILM/FRAME
Equipements de montage
Accessoires & Options
D - DISQUE DIAMANTE POUR DECOUPE DE TOUS MATERIAUX FINS
Disque nécessitant un flasque de montage
Disque (lame) incluant le flasque prêt à l'emploi
E - INSOLATEURS DE FILM ULTRAVIOLET
Equipements d'insolation UV
Lampes manuelles UV
Accessoires & Options
F - EXPANSION DU FILM APRES DECOUPE
G - BROSSAGE PLAQUETTES APRES DECOUPE
H - ACCESSOIRES LIES A LA DECOUPE
Anneaux plastique & Cadres métalliques
Flasques de montage pour lame de découpe annulaire
Autres accessoires liés à la découpe
6 - TESTS DE COMPOSANTS & RODAGE (BURN IN)
A1 -
NOUVEAUTES
EN SOCKETS
A2 - SUPPORTS (SOCKETS) STANDARD DE TESTS ET DE BURN IN
Pour boitiers BGA/CSP, LGA
Pour boitiers QFN
Sockets spéciaux pour boitiers forte dissipation
Sockets pour boitiers Axiaux-radiaux & MELF
Sockets pour boitiers TO, SIP, DIP
LCC, FlatPack, SMD, Micro-ondes & Hybrides
Sockets ZigZag & Alternés
Sockets pour boitiers PLCC/SOJ & "Gull Wing"
Boitiers Opto & PGA
Connecteurs
B - CARTES BURN IN - HUMIDITE & AUTOCLAVE
C - POINTES DE TEST A RESSORT
D - CARTES INTERFACE DE TESTS
E - INSTRUMENTATION & LOGICIELS
7 - MANIPULATION DES COMPOSANTS & CONDITIONNEMENT
Micro-manipulation & Micro-tools
8 - SERVICES DE SOUS-TRAITANCE PROTOTYPES
Categorie :
Equipements pour mesures d'effet Hall et autres paramètres
3
Produit(s) Trouvé(s)
HMS3000 : Appareils de mesure effet HALL et autres paramètres
+ d'infos..
Appareil à source de courant constant et aimants permanents de rapport qualité/prix particulièrement intéressant pour la
mesure de : Loi de Van der Pauw, Résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
» Permet de caractériser les couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires...
» Le modèle 3000 intègre le tracé de courbes I-V et peut mesurer à
température ambiante
ou à la
température de 77K (azote liquide)
» Système de
fixation de l'échantillon par clip
rapide et pratique
» Différents aimants (permanents) sont disponibles
++
Voir autres modèles
++ Theory & Complements see
www.hall-effect.eu
Références
HMS3000
: Appareil manuel mesure effet Hall avec graphe I-V, aimant permanent
HMS3500: Ensemble à température variable pour HMS3000
+ d'infos..
Le modèle
HMS3000
permet la mesure à température ambiante
OU
à la température de 77K (température de l'azote liquide). Le modèle HMS3500 est un complément pour les possesseurs de HMS3000. Il permet la variation de température continue de 80K à 350K avec une résolution de +-0.5°C.
» La mesure d'effet Hall et de tous les paramètres dans une gamme de température variable est souvent utilisée par les fabricants de
cellules solaires
et sur les
matériaux photovoltaiques
++
Voir tous les modèles
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HMS5000 : Appareil de mesure d'effet Hall à température variable
+ d'infos..
Le modèle HMS5000 est
le dernier né de la gamme
et représente
l'aboutissement de nombreuses années de recherches
visant à proposer un système de mesure d'effet Hall :
» Compact et simple d'emploi, adapté aux laboratoires et petites productions
» Permettant de caractériser un grand nombre d'échantillons avec des couches semi-conductrices
» A
un prix compétitif
pour un appareil qui propose la mesure des paramètres avec la
variation de température
» Cette caractéristique est particulièrement appréciée pour certains dispositifs (capteurs,
cellules solaires et matériaux photovoltaiques
...)
++
Voir les autres modèles
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