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Appareil C-V contact mercure CVmap série 92A
  1 - CARACTERISATION ELECTRIQUE DES COUCHES SEMI-CONDUCTRICES > A - CARACTERISATION PAR C-V / I-V > Equipements pour caractérisation C-V par CONTACT MERCURE
Appareil C(V) à contact mercure pour caractérisation de wafers & Substrats jusqu'à 200mm
» Chargement manuel de l'échantillon (robot optionnel), positionnement et mesure automatique, cartographie et graphes 3D
» Fonctions logicielles modulables selon l'évolution des applications
» Permet de mesurer & caractériser & monitorer un grand nombre de paramètres sur les matériaux semi-conducteurs et la qualité des procédés eux-mêmes.
 
 
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Informations techniques
Taille max des plaquettes200
Operating system (OS)DOS (WIN optionnel)
RemarquesSyst. disponible sans mapping (CV92A)
Applications typiques
MesurerEpaisseur et valeur "K" pour low K & High K
MonitorerDensité de porteurs sur couche EPI et implantation ionique
CaractériserFaible dose implantées, wafers nus
MonitorerIntégrité des oxydes minces
MonitorerContamination des fours de dépot
CaractériserDensité de porteurs à l'interface
Accessoires & Options
Autres accessoires & OptionsDETAIL
 
   
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