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Série d'appareils de mesure 4 pointes manuels évolutifs
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1 - CARACTERISATION ELECTRIQUE DES COUCHES SEMI-CONDUCTRICES > B - MESURE DE RESISTIVITE PAR METHODE 4 POINTES > APPAREILS DE MESURE de résistivité de surface gamme semi-conducteurs
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Appareils pour labos & R&D & Petite Production. Positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version
» Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
» La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)
» Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
» Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête 4 pointes avec levier de descente et d'un plateau de réception de 4, 6 ou 8 pouces
++ Voir tous les systèmes 4 pointes
++ Theory & Complements see www.four-point-probe.eu
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| Pro44000N |
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| Pro44400N |
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| Pro4440N |
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| S302K |
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Cliquez sur une référence pour afficher (ou non) ses caractéristiques
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 | Pro44000N (id :: 2819) | | Stand manuel avec software, sans pc & K2400 |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800k.Ohms/carré (avec K2400) | | Type de cartographie disponibles | Positionnement manuel | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm.Cm, V/I | | Operating system (OS) | N/A |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couches | | Monitorer | Résistivité, homogénéité | | Caractériser | Couches semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | N/A |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Pro4-Software (Moyenne, écart-type, pass/fail) |
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| Pro44400N (id :: 2818) | | Système manuel avec soft & Keithley 2400, sans pc |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800k.Ohms/carré | | Type de cartographie disponibles | Positionnement manuel | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm.Cm, V/I | | Operating system (OS) | Win2000 |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couches | | Monitorer | Résistivité, homogénéité | | Caractériser | Couches semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | N/A |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Pro4-Software (Moyenne, écart-type, pass/fail) |
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| Pro4440N (id :: 2817) | | Système complet manuel avec soft & Keithley 2400 + PC |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800k.Ohms/carré | | Type de cartographie disponibles | Positionnement manuel | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm.Cm, V/I | | Operating system (OS) | Win2000 |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couches | | Monitorer | Résistivité, homogénéité | | Caractériser | Couches semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | N/A |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Pro4-Software (Moyenne, écart-type, pass/fail) |
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| S302K (id :: 3241) | | Système manuel avec K2611, affichage mesure |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800k.Ohms/carré | | Type de cartographie disponibles | Positionnement manuel | | Unités de mesure | Ohm/carré | | Operating system (OS) | N/A |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couches | | Monitorer | Résistivité, homogénéité | | Caractériser | Couches semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | N/A |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Programme intégré contrôle et affichage mesure |
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Pas de références Produits disponibles
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