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Résistivimètres manuels & semi-automatiques 200mm
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1 - CARACTERISATION ELECTRIQUE DES COUCHES SEMI-CONDUCTRICES > B - MESURE DE RESISTIVITE PAR METHODE 4 POINTES > APPAREILS DE MESURE de résistivité de surface gamme semi-conducteurs
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De 1 milliohm à 8E11ohm/carré, manuel (1pt, 5 pts), ou semi-automatique cartographie et analyse jusqu'à 6000 points selon modèle
» Gamme de mesure standard et étendue,
» Windows XP OS,
» Stockage et récupération des valeurs de mesure,
» Fonctions de recherche de résultats évoluées,
» Cartes de mesure polaires et rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre, Sites de tests "custom",
» Compensation d'effet de bord, » Détection automatique de la polarité....
Ces appareils permettent de répondre à tous les besoins en terme de qualification de résistance de couche , que ce soit en R & D et manuel ou en mode production.
++ Voir tous les systèmes 4 pointes
++ Theory & Complements see www.four-point-probe.eu
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Visualisez les références du produit en cliquant sur l'onglet références
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| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800Kohm/carré, jusqu'à 8E11 en option |
| Type de wafers & Substrats acceptés | 75-200 mm avec mapping, qq mm min en manuel |
| Reproductibilité | 0,2% typique |
| Transfert de données | RS232, SECSII optionnel |
| Nombre de points (site) de mesure | Jusqu'à 650 |
| Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm-cm, V/I, t(µm), T(Angstroms) |
| | Applications typiques |
| Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier |
| Critère de choix 1 | Complet, =<200mm, upgradable |
| Mesurer | Résistivité de couche, épaisseur |
| Monitorer | Homogénéité, reproductibilité |
| Caractériser | Toutes couches minces conductrices ou semi-conductrices |
| | Fournitures Techniques nécessaires & Encombrement | | Dimensions | H76xl51xP76cm + PC-écran-clavier |
| Vide | 20" Hg |
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Pas d'informations détaillées
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| 280PI |
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| 280PCI |
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| 280SI |
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| 280TCI |
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| 280DI |
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Cliquez sur une référence pour afficher (ou non) ses caractéristiques
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 | 280PI (id :: 172) | | Appareil manuel upgradable |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800Kohm/carré | | Type de cartographie disponibles | 1pt, 5 pt + manuel | | Unités de mesure | Ohm/carré | | Operating system (OS) | Propriétaire |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couche | | Monitorer | Homogénéité, reproductibilité | | Caractériser | Toutes couches minces conductrices ou semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | Moyenne & écart-type sur 5 valeurs |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Non |
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| 280PCI (id :: 173) | | Appareil manuel avec clavier de programmation |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800Kohm/carré | | Type de cartographie disponibles | 1 pt, 5 pt + manuell | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm-cm, V/I, écart-type | | Operating system (OS) | Propriétaire |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couche | | Monitorer | Homogénéité, reproductibilité | | Caractériser | Toutes couches minces conductrices ou semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | moyenne, écart-type + 15 prog stockables |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Non |
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| 280SI (id :: 174) | | Appareil semi-automatique & Cartographie |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800Kohm/carré | | Type de cartographie disponibles | Polaire, rectangulaire, custom, quick check 1 pt, 5 pts | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm-cm, V/I, t(µm), T(Angstroms) | | Operating system (OS) | Windows |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couche, épaisseur | | Monitorer | Homogénéité, reproductibilité | | Caractériser | Toutes couches minces conductrices ou semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | Oui |
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| 280TCI (id :: 175) | | Appareil semi-automatique & Cartographie & compensation de T° |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 800Kohm/carré, jusqu'à 8E11 en option | | Type de cartographie disponibles | N/A | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm-cm, V/I, t(µm), T(Angstroms) | | Operating system (OS) | N/A |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couche, épaisseur | | Monitorer | Homogénéité, reproductibilité | | Caractériser | Toutes couches minces conductrices ou semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | N/A |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Oui |
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| 280DI (id :: 176) | | Appareil semi-automatique & Cartographie & gamme étendue |
| | Informations techniques | | Gamme de mesure | 1 milliohm à 8E9 ohm/carré, jusqu'à 8E11 en option | | Type de cartographie disponibles | Rectangulaire, polaire, custom, partiel... | | Unités de mesure | Ohm/carré, Ohm-cm, V/I, t(µm), T(Angstroms) | | Operating system (OS) | WINXP |
| | Applications typiques | | Fiche Produit (pdf) | Cliquez ici pour obtenir le fichier | | Mesurer | Résistivité de couche, épaisseur | | Monitorer | Homogénéité, reproductibilité | | Caractériser | Toutes couches minces conductrices ou semi-conductrices |
| | Accessoires & Options | | Fonctions d'analyse disponibles | Oui |
| | Logiciels & Fonctions associées | | Logiciel de mesure & Analyses | Oui |
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Pas de références Produits disponibles
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